Atomic layer deposition and microscopic analysis of magnetically and electrically polarizable thin solid films

Kättesaadav autoriseeritud töökohal Eesti Rahvusraamatukogus, Eesti Kirjandusmuuseumi Arhiivraamatukogus, Tallinna Tehnikaülikooli Raamatukogus, Tartu Ülikooli Raamatukogus ja Tallinna Ülikooli Akadeemilises Raamatukogus

Ei ole kättesaadav Eesti Rahvusraamatukogu sisevõrgus

Ei ole kättesaadav välisvõrgus

Atomic layer deposition and microscopic analysis of magnetically and electrically polarizable thin solid films

Autor: Helina Seemen, Tartu Ülikool. Füüsika instituut, Juhendaja: Aile Tamm, Kaupo Kukli

tehnilised andmed

Kirjastaja:: University of Tartu Press
Ilmumisaeg:: 2021
Keel:: inglise
Deposiitor:: Tartu Ülikooli Kirjastus

Laad:: raamat

: Autoriõigusega kaitstud
ESTER: b54494230
ISBN: 9789949036417 (pdf)

Püsilink: http://www.digar.ee/id/nlib-digar:622131

Atomic layer deposition and microscopic analysis of magnetically and electrically polarizable thin solid films

tehnilised andmed

Märksõnad

VAATA VEEL

Kuulub sarja

Atomic layer deposition and microscopic analysis of magnetically and electrically polarizable thin solid films

tehnilised andmed

Märksõnad

VAATA VEEL